河南一诺佳盛仪器设备有限公司

HE NAN YINUOJIASHENG INSTRUMENT EQUIPMENT CO.,LTD


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    布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过革命性的TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!
        高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证!先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。

    技术指标:

    Theta/theta立式测角仪
    2Theta角度范围:-110~168°
    角度精度:0.0001度          
    Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管
    探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器         
    仪器尺寸:1868x1300x1135mm              
    重量:770kg
    功率:6.5kW

    应用

    物相定性分析    结晶度及非晶相含量分析
    结构精修及解析   物相定量分析
    点阵参数精确测量  无标样定量分析
    微观应变分析    晶粒尺寸分析
    原位分析      残余应力
    低角度介孔材料测量 织构及ODF分析
    薄膜掠入射     薄膜反射率测量
    小角散射
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    布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过革命性的TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!
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    技术指标:

    Theta/theta立式测角仪
    2Theta角度范围:-110~168°
    角度精度:0.0001度          
    Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管
    探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器         
    仪器尺寸:1868x1300x1135mm              
    重量:770kg
    功率:6.5kW

    应用

    物相定性分析    结晶度及非晶相含量分析
    结构精修及解析   物相定量分析
    点阵参数精确测量  无标样定量分析
    微观应变分析    晶粒尺寸分析
    原位分析      残余应力
    低角度介孔材料测量 织构及ODF分析
    薄膜掠入射     薄膜反射率测量
    小角散射

    技术指标:


    Theta/theta立式测角仪

    2Theta角度范围:-110~168°

    角度精度:0.0001                     

    Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管 

    探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器                  

    仪器尺寸:1868x1300x1135mm                            

    重量:770kg

    功率:6.5kW